JBWSL-W型小麦(玉米)不完善粒检测仪
1.主要用途:用于小麦、玉米的不完善粒检测。
2.技术参数:
2.1 识别品种:白麦、红麦、混合麦。
2.2 识别范围:病斑粒、生霉粒、生芽粒、虫蚀粒、破损粒、赤霉病粒等。
2.3 图像精度:侧视图有效高度10mm时线数每像素不低于100LW/PH。
2.4 样品量:50克。
2.5 单个样品检测用时:<5分钟。
2.6 准确性、重复性、台间差、稳定性:符合LS/T6402-2017标准。
2.7 触摸屏操作,实时显示动态检测结果;数据存储、实时打印数据条防人工干预。
2.8 可升级测谷外糙米、整精米率等可选功能
3.售后服务要求:接到用户维修仪器请求后,在2小时内给予答复。保修期内维修服务不收取服务费用。保修期1年。